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训练机器学习模型以确定掩模的光学邻近效应校正的方法技术
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文档序号:30218091
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本发明描述多种训练方法和一种掩模校正方法。所述方法之一用于训练机器学习模型,该机器学习模型被配置成预测用于掩模的优化后邻近效应校正(OPC)图像。所述方法涉及:获得(i)与待印制于衬底上的设计布局相关联的优化前邻近效应校正图像、(ii)所述...
该专利属于ASML荷兰有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASML荷兰有限公司授权不得商用。
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