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本申请涉及测试机架、测试分机及测试系统，包括上述的测试机架、上述的测试分机；所述测试分机沿所述测试工位安装在所述测试机架内，且通过所述测试机架将待测工件移动到所述测试分机进行检测。本申请的有益效果是：本申请的测试机架、测试分机可独立使用，以...
该专利属于惠州市蓝微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过惠州市蓝微电子有限公司授权不得商用。

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