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本申请公开一种电路参量的修调方法、修调电路、芯片和电子设备，可以降低修调误差，方法包括获取待修调电路中待修调元件处于各个工作状态时的测试参量以及对应的目标参量；确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围和对应的目标参量构成的目标范围，获...
该专利属于上海艾为电子技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海艾为电子技术股份有限公司授权不得商用。

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