电路参量的修调方法、修调电路、芯片、电子设备技术

本申请公开一种电路参量的修调方法、修调电路、芯片和电子设备，可以降低修调误差，方法包括获取待修调电路中待修调元件处于各个工作状态时的测试参量以及对应的目标参量；确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围和对应的目标参量构成的目标范围，获取测试范围的测试长度以及所述目标范围的目标长度；以及获取与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调，其中，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的测试参量修调至等于目标参量。至等于目标参量。至等于目标参量。

【技术实现步骤摘要】
电路参量的修调方法、修调电路、芯片、电子设备


[0001]本申请涉及集成电路
，具体涉及一种电路参量的修调方法、修调电路和芯片。

技术介绍

[0002]由于工艺制造或者结构不对称等原因，会造成电路测试得到的实际参量偏离理论计算的目标参量，因此通常会对电路的实际参量进行修调。
[0003]传统的修调方法对电路的某元件的参量进行修调时，当测试的参量与目标参量出现偏差，如图1所示，修调时会将该元件的参量进行定量平移，直到修调后的参量接近或等于目标参量。
[0004]一般地，电路中某些元件可能会存在两个以上参量，例如运算放大器，存在多个不同的输出参量，比较器工作时这些输出参量与对应的目标参量均有可能存在偏差。但专利技术人研究发现，采用传统的修调方法修调时，如果对所有参量均进行定量平移，通常可能仅可使得元件的其中一个修调后参量接近或等于目标参量，却可能会造成该元件其他修调后的参量与目标参量存在较大误差。如图2所示，元件的测试参量1和测试参量2均偏移目标值，采用传统方法定量平移修调后，修调后的参量1接近目标参量，修调后的参量2与目标参量值偏离较大。

技术实现思路

[0005]基于此，为了解决或改善现有技术的问题，本申请提供一种电路参量的修调方法、修调电路、芯片和电子设备，可以降低修调误差。
[0006]第一方面，提供一种电路参量的修调方法，包括以下步骤：
[0007]获取待修调电路中待修调元件处于各个工作状态时的测试参量以及对应的目标参量；
[0008]确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围和对应的目标参量构成的目标范围，获取测试范围的测试长度以及所述目标范围的目标长度；
[0009]获取与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调，其中，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的测试参量修调至等于目标参量。
[0010]其中一个实施例中，当所述测试长度大于目标长度时，修调时将所述测试长度缩短直至等于目标长度；
[0011]当所述测试长度小于目标长度时，修调时将所述测试长度增加直至等于目标长度。
[0012]其中一个实施例中，当存在偏差的所述元件组的测试参量所处范围构成的长度小于目标长度时，修调时将所述长度增加直至与目标长度的偏差在预设范围内。
[0013]其中一个实施例中，所述基于目标长度分别将处于各个工作状态的测试参量修调至等于目标参量，且修调后处于各个工作状态的测试参量所处范围构成的长度等于所述目
标长度的步骤包括：
[0014]按照目标长度将目标范围分级为不同档位的分级参量，根据测试参量所对应的目标参量选择对应档位的分级参量，作为修调后的测试参量。
[0015]第二方面，提供一种修调电路，包括：
[0016]测试单元，用于测试待修调电路的处于各个工作状态时的测试参量；
[0017]控制单元，与所述测试单元连接，用于输出控制信号控制待修调电路进入工作状态，并用于确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围、对应的目标参量构成的目标范围、测试范围的测试长度及目标范围的目标长度，并用于在检测到测试参量与对应的目标参量的偏差大于预设偏差时，输出修调信号至修调单元；
[0018]修调单元，与所述控制单元连接，以及用于与所述待修调电路连接，用于在响应所述修调信号修调与目标参量存在偏差的测试参量，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的参量修调至等于目标参量，且修调后处于各个工作状态时的测试参量所处范围构成的长度等于所述目标长度。
[0019]其中一个实施例中，所述修调单元用于在所述测试长度大于目标长度时，修调时将所述测试长度缩短直至等于目标长度，以及用于在述测试长度小于目标长度时，修调时将所述测试长度增加直至等于目标长度。
[0020]其中一个实施例中，所述修调单元还用于按照目标长度将目标范围分级为不同档位的分级参量，根据测试参量所对应的目标参量选择对应档位的分级参量，作为修调后的测试参量。
[0021]其中一个实施例中，所述修调单元包括多个，一个所述修调单元包括多个开关电路和多个修调位执行电路，所述开关电路分别与所述控制单元、修调位执行电路连接；修调信号为电平信号，一个开关电路接入一个修调信号，各个开关电路响应于控制单元输出的修调信号开启，各个所述修调位执行电路用于在对应的开关电路开启时对与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调。
[0022]其中一个实施例中，测试参量为待修调元件的输出电压，目标长度为目标电压长度，所述修调位执行电路包括第一步修调电路、第二步修调电路以及档位选择电路；所述第一步修调电路的输入端接入基准电压，输出端与所述第二步修调电路的输入端连接，控制端通过开关电路连接控制单元；所述第二步修调电路的输出端与档位选择电路的输入端连接，控制端通过开关电路连接控制单元；所述档位选择电路的控制端通过开关电路连接控制单元，输出端用于输出分级电压；
[0023]所述第一步修调电路用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制，根据待修调元件的目标电压长度、基于所述基准电压输出分压作为目标电压长度；
[0024]所述第二步修调电路用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制确定目标电压范围，目标电压范围构成的电压长度等于所述目标电压长度；
[0025]所述档位选择电路用于按照目标长度将目标电压范围分成不同档位的分级电压，并用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制输出相应的分级电压作为修调后的输出电压。
[0026]所述第一步修调电路包括第一运算放大器和第一分压选择电路，第一运算放大器的正输入端用于接入所述基准电压，第一分压选择电路包括第一端和第二端，第一端与第
一运算放大器的负输入端连接，第二端与第一运算放大器的输出端连接，第一分压选择电路用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制、并基于第一运算放大器的输出电压，选择对应的分压输出，所述分压作为目标电压长度。
[0027]其中一个实施例中，所述第二步修调电路包括高位电压选择电路、低位电压选择电路以及中间电阻电路，中间电阻电路包括多个依次串联的电阻，高位电压选择电路以及低位电压选择电路均包括第一端、第二端和控制端；中间电阻电路沿信号传输方向的第一个电阻连接高位电压选择电路的第二端，最后一个电阻连接低位电压选择电路的第一端，高位电压选择电路的第一端连接第一分压选择电路的第一端，低位电压选择电路的第二端接地；
[0028]高位电压选择电路用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制控制目标输出电压范围的最大值，低位电压选择电路用于在开关电路开启时，响应于控制单元的控制控制电压范围的最小值；
[0029]档位选择电路包括并联的多个开关，各个开关的第一端连接中间电阻电路的对应电阻，各个开关的第二端输出对应的分级电压，各个开关的控制端通过开关电路连接控制单元，控制单元用于根据存在偏差的输出电压对应的目标电压，选通对应的开关以输出相应的分级电压作为修调后的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路参量的修调方法，其特征在于，包括以下步骤：获取待修调电路中待修调元件处于各个工作状态时的测试参量以及对应的目标参量；确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围和对应的目标参量构成的目标范围，获取测试范围的测试长度以及所述目标范围的目标长度；获取与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调，其中，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的测试参量修调至等于目标参量。2.根据权利要求1所述的电路参量的修调方法，其特征在于，当所述测试长度大于目标长度时，修调时将所述测试长度缩短直至等于目标长度；当所述测试长度小于目标长度时，修调时将所述测试长度增加直至等于目标长度。3.根据权利要求1所述的电路参量的修调方法，其特征在于，所述基于目标长度分别将处于各个工作状态的测试参量修调至等于目标参量，且修调后处于各个工作状态的测试参量所处范围构成的长度等于所述目标长度的步骤包括：按照目标长度将目标范围分级为不同档位的分级参量，根据测试参量所对应的目标参量选择对应档位的分级参量，作为修调后的测试参量。4.一种修调电路，其特征在于，包括：测试单元，用于测试待修调电路的处于各个工作状态时的测试参量；控制单元，与所述测试单元连接，用于输出控制信号控制待修调电路进入工作状态，并用于确定所述待修调元件的各个测试参量构成的测试范围、对应的目标参量构成的目标范围、测试范围的测试长度及目标范围的目标长度，并用于在检测到测试参量与对应的目标参量的偏差大于预设偏差时，输出修调信号至修调单元；修调单元，与所述控制单元连接，以及用于与所述待修调电路连接，用于在响应所述修调信号修调与目标参量存在偏差的测试参量，将测试长度修调至等于目标长度，基于目标长度分别将存在偏差的参量修调至等于目标参量，且修调后处于各个工作状态时的测试参量所处范围构成的长度等于所述目标长度。5.根据权利要求4所述的修调电路，其特征在于，所述修调单元用于在所述测试长度大于目标长度时，修调时将所述测试长度缩短直至等于目标长度，以及用于在述测试长度小于目标长度时，修调时将所述测试长度增加直至等于目标长度。6.根据权利要求4所述的修调电路，其特征在于，所述修调单元还用于按照目标长度将目标范围分级为不同档位的分级参量，根据测试参量所对应的目标参量选择对应档位的分级参量，作为修调后的测试参量。7.根据权利要求4所述的修调电路，其特征在于，所述修调单元包括多个，一个所述修调单元包括多个开关电路和多个修调位执行电路，所述开关电路分别与所述控制单元、修调位执行电路连接；修调信号为电平信号，一个开关电路接入一个修调信号，各个开关电路响应于控制单元输出的修调信号开启，各个所述修调位执行电路用于在对应的开关电路开启时对与目标参量存在偏差的测试参量并进行修调。8.根据权利要求4所...

【专利技术属性】
技术研发人员：田江江，
申请(专利权)人：上海艾为电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：