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本发明涉及到芯片测试领域，尤其涉及一种待测芯片的模数转换校准方法及系统。其中的方法，具体包括：步骤S1，控制待测芯片输出一固定的参考电压值，并对所述参考电压值进行模数转换，获取模数转换后的参考量化值；步骤S2，控制所述待测芯片正常工作并输出...
该专利属于苏州磐启微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州磐启微电子有限公司授权不得商用。

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