下载一种集成隧穿氧化层的非晶硅制备方法的技术资料

文档序号:29876690

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本发明公开了一种集成隧穿氧化层的非晶硅制备方法,即超薄隧穿氧化层与非晶硅的生长在同一工序进行,无Q‑time时间,可减少工艺步骤,不涉及额外的上下片过程,不会增加划伤及污染风险,比氧化与非晶硅生长分开方式拥有更优异的钝化结果。...
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