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本发明提供一种芯片漏写电可编程熔丝的测试方法及装置，该测试方法包括：当应用待测芯片的电子设备第一次开机时，获取待测芯片的电可编程熔丝状态标志位；根据电可编程熔丝状态标志位判断电可编程熔丝是否写入数据；若电可编程熔丝未写数据，发出提醒信号。本...
该专利属于展讯通信(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过展讯通信(上海)有限公司授权不得商用。

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