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本申请涉及一种用于提取集成电路器件的器件模型参数的方法，包括：提供针对所述集成电路器件的测试数据集；提供提取条件设置界面，所述提取条件设置界面包括多个提取条件域，其中每个提取条件域对应于一个测试条件；接收用户输入，所述用户输入用于对所述提取...
该专利属于上海概伦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海概伦电子股份有限公司授权不得商用。

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