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一种磁瓦内部缺陷检测装置和检测方法，该检测方法包括如下步骤：S1、针对被测磁瓦样品发射超声波，获取超声回波信号；S2、对所述超声回波信号进行的预处理，截取有效信号段落；S3、对截取后的有效信号段落进行经验模态分解；S4、根据分解的回波信号，...
该专利属于清华大学深圳国际研究生院所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学深圳国际研究生院授权不得商用。

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