一种磁瓦内部缺陷检测装置及检测方法制造方法及图纸

一种磁瓦内部缺陷检测装置和检测方法，该检测方法包括如下步骤：S1、针对被测磁瓦样品发射超声波，获取超声回波信号；S2、对所述超声回波信号进行的预处理，截取有效信号段落；S3、对截取后的有效信号段落进行经验模态分解；S4、根据分解的回波信号，判断回波对应的被测磁瓦样品的检测位置内部是否有缺陷；S5、针对判定为含有内部缺陷的信号计算缺陷深度。该检测方法尤其适于检测磁瓦内部有一定深度、非近表面的缺陷，且同时检测过程快捷高效。

【技术实现步骤摘要】
一种磁瓦内部缺陷检测装置及检测方法
本专利技术涉及磁瓦质检，特别是涉及一种磁瓦内部缺陷检测装置及检测方法。
技术介绍
磁瓦片(以下简称磁瓦)是产生恒定磁势源的永磁电动机的核心组件，其生产质量对永磁电动机的性能和使用寿命至关重要。磁瓦的加工工艺比较复杂，再加上各种因素的干扰，例如材料本身的密度分布不均匀、加工机械的运行状况不稳定以及现场环境的影响，磁瓦不可避免地会出现缺陷。磁瓦内部的缺陷可能会严重影响其使用性能，所以加工制造企业将磁瓦产品的缺陷检测视为生产过程中的重要环节。磁瓦内部缺陷主要为内部暗裂纹、夹渣、杂质、内部气孔等。现有的磁材内部缺陷检测方法主要为人工检测，人工检测有很多缺点：如质量检测耗时长、劳动密集性作业方式浪费人力资源、准确率不稳定、不能有效收集完整检测数据为生产业务提供价值等，因此工业界需要一种自动化的手段高效准确批量化地对磁瓦内部缺陷进行检测。国内外学者已在磁瓦生产工艺及配方和成型方面取得了大量的研究成果；而现有的针对磁瓦缺陷检测的文献和相关专利主要集中在表面缺陷检测的方法上，鲜见有针对磁瓦内部缺陷的检测设备或本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1、针对被测磁瓦样品发射超声波，获取超声回波信号；/nS2、对所述超声回波信号进行的预处理，截取有效信号段落；/nS3、对截取后的有效信号段落进行经验模态分解；/nS4、根据分解的回波信号，判断回波对应的被测磁瓦样品的检测位置内部是否有缺陷；/nS5、针对判定为含有内部缺陷的信号计算缺陷深度；优选地，使用滑动窗口对平滑后的信号求分段方差，并绘制连续方差曲线，提取表面回波、缺陷回波、底波三处对应的方差曲线极值点，分别确定表面波、缺陷回波、底波所处位置后，计算缺陷深度。/n

【技术特征摘要】
1.一种磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1、针对被测磁瓦样品发射超声波，获取超声回波信号；
S2、对所述超声回波信号进行的预处理，截取有效信号段落；
S3、对截取后的有效信号段落进行经验模态分解；
S4、根据分解的回波信号，判断回波对应的被测磁瓦样品的检测位置内部是否有缺陷；
S5、针对判定为含有内部缺陷的信号计算缺陷深度；优选地，使用滑动窗口对平滑后的信号求分段方差，并绘制连续方差曲线，提取表面回波、缺陷回波、底波三处对应的方差曲线极值点，分别确定表面波、缺陷回波、底波所处位置后，计算缺陷深度。


2.如权利要求1所述的磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，步骤S2中，对所述超声回波信号进行的预处理包括在回波的多个峰中提取第一次表面回波与第一次底波，其中，通过窗函数将所关心的有用信号段保存。


3.如权利要求2所述的磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，步骤S2中，采用依据局部峰度的方法，基于信号序列局部峰度值统计特征确定加窗位置，对所述超声回波信号进行加窗。


4.如权利要求3所述的磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，所述峰度表征概率密度分布曲线在平均值处峰值高低的特征数，用四阶中心距来测定，其公式为其中，K表示信号段落的峰度，k代表选定段落的采样点数，x是段落信号均值，xi表示段落信号第i个取样点幅值，s表示信号标准差；步骤S2中，将峰度阈值设置为3，辨别第一次表面回波及第一次底波的分界点；对信号进行截取加窗的过程中，依次计算峰值时所选取的步长为30采样点，分别计算每一波形段落的峰度，记录大于3的峰度对应的原始波形段落，对该段落进行截断，得到缺陷信号依据峰度截取后的结果。


5.如权利要求1至4任一项所述的磁瓦内部缺陷检测方法，其特征在于，步骤S3中，所述经验模态分解采用CEEMDAN算法对有缺陷与无缺陷的信号进行处理。


6.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱翔，程致远，朱凯雄，李星辉，朱拾东，王晓浩，
申请(专利权)人：清华大学深圳国际研究生院，
类型：发明
国别省市：广东;44