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本实用新型公开了一种便于检修的芯片检测仪，包括检测箱，所述检测箱的正面通过铰链活动连接有箱门，所述箱门的四周设置有密封条，所述箱门正面的右侧设置有把手，所述箱门正面的左侧设置有显示屏，所述箱门正面的下端设置有芯片检测口，所述检测箱的左右两侧...
该专利属于上海贵秦电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海贵秦电子有限公司授权不得商用。

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