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本实用新型涉及一种半导体芯片测试座，包括底架，底架内具有容纳腔，且容纳腔内具有触口；测试座主体设于容纳腔内；芯片定位板设于测试座主体上方，芯片定位板上设有容纳槽；上盖将芯片定位板和测试座主体覆盖在底架上，且上盖上开有通孔；容纳槽位于通孔内，...
该专利属于苏州朗之睿电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州朗之睿电子科技有限公司授权不得商用。

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