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本申请公开了一种用于测量的系统。测量系统配置为与处理设备集成，处理设备用于对结构进行光学测量，测量系统包括：支撑组件，用于将待测结构保持在测量平面中，使结构沿着至少一个第一横轴移动，并且用于通过z轴载物台改变测量平面的z轴位置；其中，z轴载...
该专利属于诺威量测设备股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过诺威量测设备股份有限公司授权不得商用。

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