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本申请公开了一种IGBT导通损耗测试电路及系统，包括：脉冲信号单元、驱动单元、开关速度调节单元、待测单元、钳位电路和测试单元；脉冲信号单元与驱动单元的一端连接，驱动单元的另一端与开关速度调节单元连接，开关速度调节单元的另一端与待测单元连接，...
该专利属于吉林华微电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过吉林华微电子股份有限公司授权不得商用。

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