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本申请涉及温度探测装置，具体而言，涉及温度检测领域。本申请提供的温度探测装置，装置包括：吸热层、半导体柱、隔热层、绝缘层、石墨烯层、第一电极和第二电极；当温度探测装置探测外界温度时，该吸热层吸收外界热量，并将该热量传递到该半导体柱上，使得该...
该专利属于西安邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安邮电大学授权不得商用。

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