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一种双侧斐索干涉仪检测装置,包括光源模块,第一干涉仪主机,第二干涉仪主机,第一标准镜,第二标准镜,被测非透明平面;所述的第一干涉仪主机、第二干涉仪主机均为斐索干涉仪。本发明将点光源位于准直镜的焦面但不在焦点上,从而使经准直镜透射的出射光与干...该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院上海光学精密机械研究所;上海精测半导体技术有限公司授权不得商用。