下载现有集成电路的设计分析方法的技术资料

文档序号:2952340

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本发明涉及一种确定集成电路布图的图像中标准单元的位置的计算有效的方法。初始步骤提取并突出所述图像的关注点。执行对可能的标准单元位置的粗略定位,并且该粗略定位基于对所提取的标准单元的实例的关注点与图像中其余关注点的比较。对包括粗略匹配和精细匹...
该专利属于英赛特半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英赛特半导体有限公司授权不得商用。

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