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本公开提供了一种物位测量装置，包括：射频装置，射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号；天线装置，天线装置发射射频装置产生的微波信号至被测对象，以及天线装置接收被被测对象反射的微波信号而形成的回波信号；微波透镜，微波透镜对天线装...
该专利属于北京锐达仪表有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京锐达仪表有限公司授权不得商用。

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