物位测量装置制造方法及图纸

本公开提供了一种物位测量装置，包括：射频装置，射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号；天线装置，天线装置发射射频装置产生的微波信号至被测对象，以及天线装置接收被被测对象反射的微波信号而形成的回波信号；微波透镜，微波透镜对天线装置发射的微波进行会聚，以及微波透镜对回波进行会聚以使得回波被天线装置接收；以及第一壳体，射频装置以及天线装置均设置在第一壳体内，微波透镜的至少一部分设置在第一壳体内。

【技术实现步骤摘要】
物位测量装置
本公开属于物位测量
，本公开尤其涉及一种物位测量装置。
技术介绍
现有技术中的雷达物位计的结构一般由仪表表头和传感器部分构成。传感器部分包换传感器外壳和天线。仪表表头部分包括仪表外壳和设置在仪表外壳之中的所有的电路板，这些电路板包括高频板。高频板产生微波信号然后发射出来，经过波导或者射频线缆连接到传感器上(天线、透镜等)，由天线发射出去。反射回来的微波信号再由天线接收然后经由射频线缆或者波导传递到高频板上进行处理从而实现物位的测量。由于对于同样的射频线缆或者波导结构，微波频率越高能量损耗越大，因此，对于80GHz或者更高频率的雷达物位计，现有技术中的雷达物位计会造成微波能量在波导中或者射频线缆中损失较大的能量。
技术实现思路
为了解决上述技术问题中的至少一个，本公开提供了一种物位测量装置。本公开的物位测量装置通过以下技术方案实现。物位测量装置，包括：射频装置，所述射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号；天线装置，所述天线装置发射所述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种物位测量装置，其特征在于，包括：/n射频装置，所述射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号；/n天线装置，所述天线装置发射所述射频装置产生的微波信号至所述被测对象，以及所述天线装置接收被所述被测对象反射的微波信号而形成的回波信号；/n微波透镜，所述微波透镜对所述天线装置发射的微波进行会聚，以及所述微波透镜对所述回波进行会聚以使得所述回波被所述天线装置接收；以及/n第一壳体，所述射频装置以及所述天线装置均设置在所述第一壳体内，所述微波透镜的至少一部分设置在所述第一壳体内。/n

【技术特征摘要】
1.一种物位测量装置，其特征在于，包括：
射频装置，所述射频装置能够产生用于对被测对象进行物位测量的微波信号；
天线装置，所述天线装置发射所述射频装置产生的微波信号至所述被测对象，以及所述天线装置接收被所述被测对象反射的微波信号而形成的回波信号；
微波透镜，所述微波透镜对所述天线装置发射的微波进行会聚，以及所述微波透镜对所述回波进行会聚以使得所述回波被所述天线装置接收；以及
第一壳体，所述射频装置以及所述天线装置均设置在所述第一壳体内，所述微波透镜的至少一部分设置在所述第一壳体内。


2.根据权利要求1所述的物位测量装置，其特征在于，还包括控制装置，所述控制装置与所述射频装置连接，所述控制装置至少对所述射频装置的微波发射进行控制。


3.根据权利要求2所述的物位测量装置，其特征在于，还包括信号传输部，所述控制装置与所述射频装置通过所述信号传输部进行信号传输。


4.根据权利要求2所述的物位测量装置，其特征在于，还包括第二壳体，所述控制装置设置在所述第二壳体之内。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的物位测量装置，其特征在于，还包括微波导向部，所述微波导向部设置在所述天线装置以及所述微波透镜之间，以对所述天线装置发射的微波信号进行导向，以及对经由所述微波透镜返回的回波信号进行导向。


6.根据权利要求5所述的物位测量装置，其特征在于，所述微波导向部为喇叭状波导，所述喇叭状波导的第一端朝向所述天线装置，所述喇叭状波导的第二端朝向所述微波透镜，其中，所述喇叭状波导的第一端的径向尺寸小于所述喇叭状波导的第二端的径向尺寸。


7.根据权利要求1所述的物位测量装置，其特征在于，所述天线装置设置在所述微波透镜的波束焦点位置处。


8.根据权利要求3所述的物位测量装置，其特征在于，所述信号传输部为线缆装置。


9.根据权利要求4所述的物位测量装置，其特征在于，所述射频装置与所述第一壳体之间通过防转向结构固定连接，所述控制装置与所述第二壳体之间通过防转向结构固定连接。


10.根据权利要求1所述的物位测量装置，其特征在于，所述射频装置临近所述第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，夏阳，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11