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本发明提供一种即使对例如表面反射率不同、在表面上存在凹槽、在表面上存在倾斜面、在表面上存在曲面的这样的计量对像物体上也能使用能高精度的计量断面轮廓线的窄断面光切断法的光学式计量装置。该装置具有：取得摄影条件不同的多幅图像的多图像取得装置、图...
该专利属于欧姆龙株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过欧姆龙株式会社授权不得商用。

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