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本发明涉及引线框架检测技术领域，尤其涉及一种基于深度学习的引线框架缺陷定位及等级判定方法，包括如下步骤：收集缺陷图像并进行缺陷位置、类别及面积掩膜的标注；基于标注图像进行深度学习量化模型的训练；利用深度学习量化模型对测试图像进行推断，判断图...
该专利属于聚时科技(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过聚时科技(上海)有限公司授权不得商用。

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