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本实用新型公开了一种芯片小型推杆测试座,包括下连接块和上连接块,所述下连接块的顶部固定有两个转杆座,且所述转杆座通过旋转杆连接有上连接块,所述下连接块的顶部开设有芯片测试槽,本实用新型中,通过设有散热片和安装座,安装座采用铜材料制作而成,散...该专利属于深圳圆融达微电子技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳圆融达微电子技术有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开了一种芯片小型推杆测试座,包括下连接块和上连接块,所述下连接块的顶部固定有两个转杆座,且所述转杆座通过旋转杆连接有上连接块,所述下连接块的顶部开设有芯片测试槽,本实用新型中,通过设有散热片和安装座,安装座采用铜材料制作而成,散...