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本发明涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：将屏幕按8*8分区；步骤S3：第一次测量并记录各分区块中心点的亮度值LV...
该专利属于深圳同兴达科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳同兴达科技股份有限公司授权不得商用。

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