屏幕残影的测试方法技术

本发明专利技术涉及屏幕显示技术领域，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：将屏幕按8*8分区；步骤S3：第一次测量并记录各分区块中心点的亮度值LV

【技术实现步骤摘要】
屏幕残影的测试方法
本专利技术涉及屏幕显示
，尤其涉及一种屏幕残影的测试方法。
技术介绍
当显示屏在显示一个画面上停留较长时间，显示屏内液晶中的带电粒子会吸附在上下玻璃两端形成内建电场，画面切换之后，这些带电粒子在没有立刻释放出，使得液晶分子没有立刻转到相应的角度会产生残影现象，另外由于像素电极在设计阶段由于设计不良使得液晶分子在画面切换时也会因排列错乱而产生残影现象。残影现象的产生会影响用户对屏幕的观感，当用户在观看屏幕上的一个画面后，该画面的影像未及时消失，导致与后一画面相重叠，较大地降低了用户的体验感。现有的测试方法依赖主观判断，工作人员易受感观及测试环境影响，在生产测试过程中易产生判定误差。因此，现有技术存在不足，需要改进。
技术实现思路
为克服上述的技术问题，本专利技术提供了一种屏幕残影的测试方法。本专利技术解决技术问题的方案是提供一种屏幕残影的测试方法，包括如下步骤：步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；步骤S2：将屏幕按8*8分区；本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述屏幕残影的测试方法包括如下步骤：/n步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；/n步骤S2：将屏幕按8*8分区；/n步骤S3：第一次测量并记录各分区块中心点的亮度值LV

【技术特征摘要】
1.一种屏幕残影的测试方法，其特征在于：所述屏幕残影的测试方法包括如下步骤：
步骤S1：将屏幕上的像素点的灰度值全部设置为128；
步骤S2：将屏幕按8*8分区；
步骤S3：第一次测量并记录各分区块中心点的亮度值LVBPn；
步骤S4：将屏幕切换到8*8棋盘格画面；
步骤S5：切换8*8棋盘格画面至屏幕上像素点的灰度值全部为128的画面；
步骤S6：第二次测量并计量各分区块中心点的亮度值LVAPn；
步骤S7：计算出最大亮度差值比MAX(ABS(LVAPn-LVBPn)/LVBPn)；
步骤S8：将最大亮度差值比与2％进行比较，当最大亮度差值...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆志锋，卢建灿，胡燮，许仕林，
申请(专利权)人：深圳同兴达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44