专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
之江实验室
>
一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法技术
>技术资料下载
下载一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法的技术资料
文档序号:29455801
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提出了一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法,包括以下步骤:在光交换阵列中选择被测单元和测试单元;输入可以确保通过被测单元和测试单元的光信号;在测试单元上加载反向电压,使得测试单元的PN结或PIN结处于载流子耗尽状态;调节被测单元上的...
该专利属于之江实验室所有,仅供学习研究参考,未经过之江实验室授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。