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本发明提供一种晶粒尺寸测试方法，测试方法包括如下步骤：步骤S1，将样品加工成合适尺寸的试样，将试样待测表面研磨、抛光后得到待测试样；步骤S2，将待测试样放入高温炉中进行加热、保温和冷却处理，高温炉连接高速图像采集CCD系统，通过高速图像采集...
该专利属于钢铁研究总院所有，仅供学习研究参考，未经过钢铁研究总院授权不得商用。

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