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本发明属于精密测量与分析技术领域，具体涉及一种求解薄基片应力的方法，该方法包括如下步骤：S1：获取待分析应力的薄基片的基础参数；S2：建立薄基片的有限元模型；S3：依次向模型中的每个面施加单位应力载荷，对有限元模型进行求解，输出求解结果；S...
该专利属于合肥工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过合肥工业大学授权不得商用。

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