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本发明公开了一种激光器光束质量单点测量方法，通过对四波横向剪切干涉图进行变换获取x/y向差分相位和光强信息，采用差分zernike算法重构待测相位信息，根据相位信息和光强信息重构复振幅，分别采取角谱算法、二阶矩法获取不同轴向位置的复振幅和光...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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