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本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种防止芯片误入测试模式的方法及系统。方法包括：步骤S1，预置对应于所述测试模式的导入码型；步骤S2，获取所述第一引脚接收到的第一信号；步骤S3，对所述第一信号进行处理，并判断处理后的所述第一信号是否属于所述...
该专利属于苏州裕太微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州裕太微电子有限公司授权不得商用。

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