温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供一种光学测量装置，更准确地测量测量对象物的透射率或反射率。光学测量装置包括：照射光学系统，向测量对象物照射包含多个波长的照射光；受光光学系统，接收测量光，所述测量光为通过向所述测量对象物照射所述照射光进而从所述测量对象物产生的透射...
该专利属于大塚电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过大塚电子株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。