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本申请涉及用于对邻近半导体裸片进行晶片级测试的方法和设备。使用存储器的内建自测试电路系统mBIST和划线并行地对半导体晶片的多个邻近半导体裸片进行晶片级测试，所述划线将半导体裸片的某些端子连接到邻近半导体裸片的端子。在所述晶片级测试期间，测...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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