专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
武汉科技大学
>
基于布儒斯特定律的折射率测量装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载基于布儒斯特定律的折射率测量装置的技术资料
文档序号:29271981
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型公开了基于布儒斯特定律的折射率测量装置,该装置包括激光发射单元,光电强度探测单元,以及带螺旋测微单元的光具座;所述螺旋测微单元包括螺旋测微标尺,以及手轮式旋钮;所述光具座底端设有滑动轨道,以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台;激光发...
该专利属于武汉科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过武汉科技大学授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。