基于布儒斯特定律的折射率测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了基于布儒斯特定律的折射率测量装置，该装置包括激光发射单元，光电强度探测单元，以及带螺旋测微单元的光具座；所述螺旋测微单元包括螺旋测微标尺，以及手轮式旋钮；所述光具座底端设有滑动轨道，以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台；激光发射单元中的激光器固定安装于螺旋测微标尺的零点位置，光电强度探测单元中的探头以可滑动方式安装于螺旋测微标尺上，旋转手轮式旋钮即对探头位置进行微调；激光器、探头、载物台的相对位置应保证：激光器的出射偏振光入射到待测介质的反射面并被反射，且反射光被探头接收。本实用新型专利技术将角度测量转化为长度测量，实现了距离连续变化，测量更精确；且不局限于光学玻璃的折射率测量。

【技术实现步骤摘要】
基于布儒斯特定律的折射率测量装置
本技术属于光学参数测量
，具体涉及基于布儒斯特定律的折射率测量装置。
技术介绍
折射率是介质的重要光学参数之一，反映了介质的光学基本性能、浓度、纯度、色散等，并与介质结构、密度及光线的波长有关。其在化工、医药、食品等方面有重要的测量意义，尤其在新兴光电信息材料方面，是重要的、基本的测量参数之一。目前基于布儒斯特定律进行折射率测量的方法，其测量对象主要是各向同性的光学玻璃。当入射角满足布儒斯特定律时，折射光和反射光垂直正交，根据几何关系有：(1)其中，为空气折射率，为待测介质折射率，为布儒斯特角。基于布儒斯特定律进行折射率测量的方法为：将测角台水平放置，光学玻璃垂直立于测角台且光学玻璃反射面刚好投影在测角台标记线处，将光电强度探测仪安置于测角台延伸处；调节带布儒斯特窗的氦氖激光源方向，至出射的偏振光偏振化方向平行于入射面，打开氦氖激光源照射至光学玻璃，调节光学玻璃的高度保证水平照射，并保证光线刚好照射在测角台中心垂线上；调节光电强度探测仪高度至刚好接收反射激光；改变偏振光入射本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.基于布儒斯特定律的折射率测量装置，其特征是：/n包括用来发射偏振光的激光发射单元，用来接收反射光的光电强度探测单元、以及带螺旋测微单元的光具座；/n所述螺旋测微单元包括水平安装于光具座上方的螺旋测微标尺，以及设于螺旋测微标尺端头的手轮式旋钮；/n所述光具座底端设有滑动轨道，以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台，载物台上设有用来放置待测介质的载物槽；/n激光发射单元中的激光器固定安装于螺旋测微标尺的零点位置，光电强度探测单元中的探头以可滑动方式安装于螺旋测微标尺上，旋转手轮式旋钮即对探头位置进行微调；/n激光器、探头、载物台的相对位置应保证：激光器的出射偏振光入射到待测介质的反射面并被反射，且...

【技术特征摘要】
1.基于布儒斯特定律的折射率测量装置，其特征是：
包括用来发射偏振光的激光发射单元，用来接收反射光的光电强度探测单元、以及带螺旋测微单元的光具座；
所述螺旋测微单元包括水平安装于光具座上方的螺旋测微标尺，以及设于螺旋测微标尺端头的手轮式旋钮；
所述光具座底端设有滑动轨道，以及滑动设置于该滑动轨道上的载物台，载物台上设有用来放置待测介质的载物槽；
激光发射单元中的激光器固定安装于螺旋测微标尺的零点位置，光电强度探测单元中的探头以可滑动方式安装于螺旋测微标尺上，旋转...

【专利技术属性】
技术研发人员：董锡杰，曹尚文，徐嘉璐，谭昕旸，贺臣，
申请(专利权)人：武汉科技大学，
类型：新型
国别省市：湖北;42