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本申请实施例提供了一种芯片测试方法、装置、控制电路和芯片，芯片包括CAM和控制电路，控制电路包括多个晶体管组，每个晶体管组包括一个第一晶体管和一个第二晶体管；每个第一晶体管的栅极与DSL连接，且每个第一晶体管的另两极分别与所属组内的第二晶体...
该专利属于新华三半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过新华三半导体技术有限公司授权不得商用。

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