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本发明提供了一种芯片标记方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质中,提供一晶圆;逐行/列扫描所述晶圆上的芯片,每扫描得到一个合格芯片,均以所述合格芯片为中心芯片选取一第一芯片区域,所述第一芯片区域是以对应的所述中心芯片为中心的N行N列矩阵;...该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。
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本发明提供了一种芯片标记方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质中,提供一晶圆;逐行/列扫描所述晶圆上的芯片,每扫描得到一个合格芯片,均以所述合格芯片为中心芯片选取一第一芯片区域,所述第一芯片区域是以对应的所述中心芯片为中心的N行N列矩阵;...