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本发明公开一种大功率光芯片检测平台，包括上盖单元，上盖单元固定在检测箱内，内置有位于上方的上PCB板、探针和位于两侧的光检测机构，下座单元插入检测箱内位于上盖单元下方，下座单元包括底座，底座上安装有下PCB板，底座两侧均匀开设有槽口，槽口内...
该专利属于上海菲莱测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海菲莱测试技术有限公司授权不得商用。

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