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本发明涉及一种粒径测量的积分反演算方法，其特征在于：其包括下列步骤：（１）首先通过测量得到一颗粒尺寸参数分布为ｆ（ｘ）的颗粒群衍射光强分布Ｉ（θ）；（２）通过Ｈａｎｋｅｌ变换和Ｓｃｈｏｌｍｉｌｃｈ方程的解析解，得到了一种双积分形式的反演表达...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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