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公开了用于诊断包含多个节点的集成电路（２０）中的桥接缺陷的方法、系统和计算机程序产品。在多个测试矢量（３０）下测量（４０）集成电路（ＩＣ）的静态电源电流（Ｉ↓［ＤＤＱ］）。还在所述多个测试矢量（３０）下获得ＩＣ（２０）上的节点的逻辑状态。节...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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