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过抹除校正方法及使用该方法的存储器装置制造方法及图纸
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下载过抹除校正方法及使用该方法的存储器装置的技术资料
文档序号:29056979
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存储器装置包含多个存储器区块,每个存储器区块包含多行的存储器单元,每一行存储器单元耦接于对应位线。在电力开启序列完成后,检测一组存储器区块中多个对应行的漏电流是否大于预定水平,其中该组存储器区块包含多个存储器区块的(i+1)个存储器区块,i...
该专利属于晶豪科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过晶豪科技股份有限公司授权不得商用。
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