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一种改善SiC器件界面特征的方法技术
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文档序号:29045710
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本发明公开了一种改善SiC器件界面特征的方法,包括以下步骤:S1、对SiC器件表面进行光刻胶的涂覆;S2、对SiC器件进行加热;S3、对SiC器件进行高温退火;S4、清洗SiC器件表面;S5、对SiC器件表面进行氧化;S6、对SiC器件表面...
该专利属于同辉电子科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过同辉电子科技股份有限公司授权不得商用。
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