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串扰效应测试方法、电路和装置制造方法及图纸
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下载串扰效应测试方法、电路和装置的技术资料
文档序号:29044592
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本申请提供一种串扰效应测试方法、电路和装置。所述串扰效应测试方法包括获取测试信号和干扰输入信号,将所述测试信号输入至模拟得到的串扰效应测试电路,得到被干扰信号,当所述被干扰信号的上升时间或所述被干扰信号的下降时间大于预设时间阈值时,确定所述...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。
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