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本实用新型公开了一种用于测试芯片的散热装置及芯片检测设备，该散热装置包括：连接贴合固定在测试芯片的线路板上的导热件，配置为传导测试芯片的热量；位于导热件上的制冷件，配置为降低测试芯片的温度；以及位于制冷件上的散热件，配置为对制冷件进行降温；...
该专利属于苏州华兴源创科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州华兴源创科技股份有限公司授权不得商用。

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