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本发明提供一种光器件的检漏方法，包括：对待检漏的光器件充氦气；将待检漏的光器件放入氦质谱检漏仪中检测漏率并记下漏率；判断待检漏的光器件的漏率是否大于等于预定值，当待检漏的光器件的漏率小于预定值时，则判定待检漏的光器件检漏通过，当待检漏的光器...
该专利属于武汉英飞光创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉英飞光创科技有限公司授权不得商用。

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