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本发明公开一种电磁特性测量装置与系统以及电磁特性测量方法，其中该电磁特性测量装置包括导磁结构、线圈以及散射参数测量器。导磁结构包括面向待测样品的第一侧以及相对于所述第一侧的第二侧，其中所述第一侧具有磁隙。线圈环绕所述导磁结构，以与所述导磁结...
该专利属于财团法人工业技术研究院所有，仅供学习研究参考，未经过财团法人工业技术研究院授权不得商用。

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