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本公开涉及一种热膨胀变形场的测量方法及装置、电子设备和存储介质，方法包括：获取被测物体表面在参考温度下的第一高度特征矩阵以及在目标温度下的第二高度特征矩阵，其中，目标温度高于所述参考温度；根据第一高度特征矩阵，确定第一灰度图像；根据第二高度...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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