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本发明公开一种颗粒检测和移除的方法及设备，该方法包括：采集图像信息，所述图像信息包含产品表面的颗粒的表面基准位置和产品表面的颗粒的大小；根据采集的图像信息，确定胶球需要朝向所述产品移动的距离D；控制所述胶球的粘附点位于所述颗粒的表面基准位置...
该专利属于捷普电子(新加坡)公司所有，仅供学习研究参考，未经过捷普电子(新加坡)公司授权不得商用。

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