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本实用新型属于芯片检测技术领域，尤其为一种新型芯片加热测试装置，包括测试台本体、测试板和定位板，所述测试台本体顶部可拆卸连接有两个对称分布的测试板，所述测试板外壁固定连接有固定板，所述固定板上开设有固定槽，所述测试板上卡合连接有加热棒，所述...
该专利属于安徽信诺达微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽信诺达微电子有限公司授权不得商用。

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