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本实用新型属于芯片测试设备技术领域，尤其为一种具有冷却功能的芯片老化测试装置，包括测试装置本体、连接板、固定板和散热棒，所述测试装置本体上开设有老化腔，所述测试装置本体一侧固定连接有进水管，所述测试装置本体远离所述进水管的一侧固定连接有出水...
该专利属于安徽信诺达微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽信诺达微电子有限公司授权不得商用。

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