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本发明涉及一种表面裂纹走向的双激励检测方法，利用双激励传感器在待测件表面形成随时间旋转的电涡流场，沿着固定的检测路径扫查经过待测件缺陷位置，提取待测件表面XY两轴磁场畸变信息，利用表面磁场畸变幅值大小判断裂纹的走向。本发明所述检测方法解决了...
该专利属于中国特种设备检测研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国特种设备检测研究院授权不得商用。

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