温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种芯片数据访问测试系统及其工作方法，通过第一气缸带动探针往上运动，首先抵接在凹槽内，避免了探针与芯片直接发生碰撞，虽然相比探针直接被气缸一次性往上推动与测试点A连接多了一个第二气缸带动针针沿着滑槽水平滑动...
该专利属于重庆秦嵩科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆秦嵩科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。